目視檢查燈YP-150I/YP-250I在液晶面板缺陷檢測(cè)上的運(yùn)用

發(fā)布日期：2023-12-07      瀏覽次數(shù)：447

目視檢查燈YP-150I/YP-250I在液晶面板缺陷檢測(cè)上的運(yùn)用

液晶面板行業(yè)的崛起，帶動(dòng)面板質(zhì)檢需求的暴增。傳統(tǒng)的缺陷檢測(cè)主要由人眼辨別，這給企業(yè)把控生產(chǎn)質(zhì)量和提高生產(chǎn)效率，帶來(lái)巨大困難。有鑒于此，采用一種新型的面板質(zhì)量檢測(cè)方式來(lái)代替人工檢測(cè)是亟待解決的技術(shù)問(wèn)題。

面板缺陷極易導(dǎo)致產(chǎn)品出現(xiàn)破碎

液晶面板生產(chǎn)過(guò)程中會(huì)概率性出現(xiàn)崩邊、破損、裂紋、劃痕等缺陷，如不及時(shí)發(fā)現(xiàn)并加以處理，進(jìn)入下道生產(chǎn)工序主設(shè)備，可能會(huì)在生產(chǎn)過(guò)程中在設(shè)備內(nèi)部發(fā)生玻璃破碎現(xiàn)象，從而必須進(jìn)行主設(shè)備停機(jī)檢修清理，導(dǎo)致停產(chǎn)經(jīng)濟(jì)損失。

基于機(jī)器視覺(jué)的液晶面板檢測(cè)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)液晶面板的各個(gè)生產(chǎn)工藝產(chǎn)生的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，包括Array（陣列）工藝，CF（彩膜）工藝，CELL（成盒）工藝，Module（模組）工藝，可實(shí)現(xiàn)對(duì)crack（裂紋），broken（破損），chip（崩邊），scratch（劃痕），burr（毛刺），drop（水滴）等缺陷的有效檢測(cè)區(qū)分。







液晶屏幕劃痕污點(diǎn)視覺(jué)檢測(cè)目的：
針對(duì)液晶屏進(jìn)行污點(diǎn)劃痕質(zhì)量檢測(cè)，替代原有人工檢測(cè)方式進(jìn)行LCD屏質(zhì)量檢測(cè)，判斷LCD屏表面是否有異物、劃傷、異色、凸包、凹痕、針孔、毛邊、亮點(diǎn)。
液晶屏污點(diǎn)劃痕質(zhì)量檢測(cè)是針對(duì)液晶屏進(jìn)行污點(diǎn)劃痕質(zhì)量檢測(cè)，替代原有人工檢測(cè)方式。

如圖1所示,采用線陣相機(jī)將LCD屏架設(shè)到運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上，進(jìn)行LCD屏質(zhì)量檢測(cè)，判斷LCD屏表面是否有異物、劃傷、異色、凸包、凹痕、針孔、毛邊、亮點(diǎn)。




YP-150I / YP-250I高亮度鹵素射鏡



用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來(lái)

特點(diǎn) 1. 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

2. 使用鹵素?zé)糇鳛楣庠矗珳馗哌_(dá)3400°K，照光和顏色均一了穩(wěn)定強(qiáng)光的照射。

3. 由于冷鏡的使用，使得熱影響與常規(guī)鋁鏡相比較少1/2 到 1/3

4. 光束直徑由鏡片調(diào)整，30-50mm 之間調(diào)整

5. 底部開(kāi)光，調(diào)整照明勘察器高度，操作簡(jiǎn)便，可控制光量。